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打破樣品測樣局限性丨飛時曼頭掃描原子力顯微鏡

點擊次數:1087  發布時間:2021-07-29

品對比
                                         

              多模式原子力顯微鏡                                           頭掃描原子力顯微鏡
               FM-Nanoview1000AFM                                                         FM-Nanoview LS-AF


將我司基礎型原子力顯微鏡(FM-Nanoview1000 AFM)和探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)做對比,不難看出我司新研發的探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統原子力顯微鏡結構上和測樣樣品上的局限性,是*先量產化商品化的,能實現樣品不動,探針移動掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對測樣樣品尺寸、重量的局限性。在適用超大樣品測樣的同時,飛時曼也將樣品臺的可拓展性增強,實現便捷的多儀器聯用原位測樣。更可根據客戶需求,訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡。廣泛應用于半導體材料與石墨烯材料的測樣研究中。


應用案例




打破傳統局限,做真正意義上的國產原子力顯微鏡,為中國民族工業添磚加瓦,飛時曼一直在努力!


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